[1]刘晖,朱日宏,朱煜,等.半导体光电探测器光谱灵敏度的测试[J].南京理工大学学报(自然科学版),1999,(02):37-40.
 Liu Hui Zhu Rihong Zhu Yu Chen Jinbang.Testing of Spectral Sensitivity of Semiconductor Photodetectors[J].Journal of Nanjing University of Science and Technology,1999,(02):37-40.
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半导体光电探测器光谱灵敏度的测试()
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《南京理工大学学报》(自然科学版)[ISSN:1005-9830/CN:32-1397/N]

卷:
期数:
1999年02期
页码:
37-40
栏目:
出版日期:
1999-04-30

文章信息/Info

Title:
Testing of Spectral Sensitivity of Semiconductor Photodetectors
作者:
刘晖朱日宏朱煜陈进榜
南京理工大学电子工程与光电技术学院, 南京210094
Author(s):
Liu Hui Zhu Rihong Zhu Yu Chen Jinbang
School of Electronic Engineering and Optoelectric Technology,NUST,Nanjing210094
关键词:
绝对光谱灵敏度 相对光谱灵敏度 量子效率 单色器 误差分析
Keywords:
relat ive spect ral sensitivity absolute spectral sensit iv ity quantum ef ficiency monochromators error analysis
分类号:
TN206
摘要:
对半导体光电探测器光谱灵敏度的测试原理进行分析研究,就研制的1套波长范围为0.4~1.1μm的采用双光路替代法,可以测试半导体光电探测器的光谱灵敏度和量子效率的光谱灵敏度测试装置进行了分析,该装置在测试过程中可以减小光源不稳定性对测试结果的影响,可以测试相对光谱灵敏度、绝对光谱灵敏度,还分析了影响该装置测试精度的一些因素,并给出了测试结果
Abstract:
Analytical research is made in this paper on the testing principle of the spectral sensit ivity of semiconductor photodetectors. A device using a double optical path system is developed to test the spectral sensitivity w ith w avelength ranging f rom 0.4 to 1.1 μm. T his device can be used to test the relat ive spect ral sensit iv ity, the absolute spectral sensitivity, the quantum efficiency and eliminate the effect of unstability of source on test result s.

参考文献/References:

1 王振常, 易庆祥, 王捷.光电探测器相对光谱灵敏度标准1 计量学报, 1990, 11( 1) : 1~ 5
2 吴继宗, 鹿景荣, 张风宏. 光电探测器相对光谱灵敏度测试方法的研究1 光学学报, 1989, 9( 8) : 758~ 761
3 Budde W. Optical radiatio n measurement volume 4 physical detectors of optical radiatio n1 New York: Academic Pr ess, 19831 50~ 52
4 Eppeldauer G1Relative spectral sensitivity distribution measurement of photoreceivers1 Appl Opt,1997, 16( 1) : 256~ 258

备注/Memo

备注/Memo:
刘 晖 女 28 岁 讲师
更新日期/Last Update: 2013-03-29